Blum-Novotest公司開發(fā)的Z-Nano小型刀具測(cè)頭可用于在CNC加工中心上自動(dòng)進(jìn)行刀具長(zhǎng)度測(cè)量和刀具破損檢測(cè)，并且可在機(jī)床的運(yùn)動(dòng)軸上進(jìn)行溫度變化尺寸補(bǔ)償。
這種結(jié)構(gòu)緊湊的非接觸式光電測(cè)頭是以前推出的Z-Nano測(cè)頭的改進(jìn)版，與以前采用的滑動(dòng)導(dǎo)軌不同，新版測(cè)頭采用了可進(jìn)一步減小測(cè)量力的滾珠導(dǎo)軌，其優(yōu)勢(shì)是能夠測(cè)量直徑更小（可至0.1mm，取決于刀具幾何形狀和材料）的微型刀具。該測(cè)頭的最大測(cè)量行程為10mm；重復(fù)性精度分別為±0.5μm（標(biāo)準(zhǔn)型）和±0.1μm（高精度型）；可測(cè)最小刀具直徑為＞0.5mm（標(biāo)準(zhǔn)型）和＞0.1mm（高精度型）。
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